一種無裂紋AlN外延膜及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111129485.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113897676A | 公開(公告)日 | 2022-01-07 |
申請公布號 | CN113897676A | 申請公布日 | 2022-01-07 |
分類號 | C30B29/40(2006.01)I;C30B25/04(2006.01)I;C30B25/06(2006.01)I;C30B25/18(2006.01)I;C30B28/14(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 張駿;張毅;陳云;岳金順 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州紫燦科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 武漢智嘉聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 柏琳容 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市吳江區(qū)黎里鎮(zhèn)城司路158號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種無裂紋AlN外延膜及其制備方法,該方法的步驟包括:在藍(lán)寶石襯底上外延生長AlN緩沖層;在AlN緩沖層上外延生長AlN一次外延層;對AlN一次外延層遠(yuǎn)離藍(lán)寶石襯底一側(cè)進(jìn)行圖形化處理;在AlN一次外延層進(jìn)行圖形化處理的一側(cè)外延生長高溫AlN層,得到無裂紋AlN外延膜;AlN一次外延層由第一AlN層和第二AlN層交替生長形成,第一AlN層的生長溫度大于第二AlN層的生長溫度,第一AlN層的V/III比小于第二AlN層的V/III比。本發(fā)明通過在AlN緩沖層和高溫AlN層之間引入AlN一次外延層,并對AlN一次外延層進(jìn)行圖形化處理,不僅使高溫AlN層的均勻性顯著提高,還能夠很好地釋放生長過程中積累的熱應(yīng)力,防止AlN薄膜開裂。 |
