雙列直插式存儲器模塊的測試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911174027.1 申請日 -
公開（公告）號 CN110955569B 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN110955569B 申請公布日 2021-10-01
分類號 G06F11/22（2006.01）I;G11C29/10（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 侯林;黃威 申請（專利權(quán)）人 英業(yè)達(dá)科技有限公司
代理機構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐秋平
地址 201114上海市閔行區(qū)漕河涇出口加工區(qū)浦星路789號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種雙列直插式存儲器模塊的測試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置，所述方法包括以下步驟：獲取雙列直插式存儲器模塊在服務(wù)器的位置；修改發(fā)現(xiàn)不良的雙列直插式存儲器模塊后的保護機制，對各個雙列直插式存儲器模塊進行測試；將測試結(jié)果保存在基板管理控制模塊的系統(tǒng)事件日志中。本發(fā)明的一種雙列直插式存儲器模塊的測試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置，用于防止在對于雙列直插式存儲器模塊的測試過程關(guān)閉服務(wù)器，及時發(fā)現(xiàn)不良的雙列直插式存儲器模塊。