雙列直插式存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911174027.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN110955569B 公開(公告)日 2021-10-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN110955569B 申請(qǐng)公布日 2021-10-01
分類號(hào) G06F11/22(2006.01)I;G11C29/10(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 侯林;黃威 申請(qǐng)(專利權(quán))人 英業(yè)達(dá)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 徐秋平
地址 201114上海市閔行區(qū)漕河涇出口加工區(qū)浦星路789號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種雙列直插式存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置,所述方法包括以下步驟:獲取雙列直插式存儲(chǔ)器模塊在服務(wù)器的位置;修改發(fā)現(xiàn)不良的雙列直插式存儲(chǔ)器模塊后的保護(hù)機(jī)制,對(duì)各個(gè)雙列直插式存儲(chǔ)器模塊進(jìn)行測(cè)試;將測(cè)試結(jié)果保存在基板管理控制模塊的系統(tǒng)事件日志中。本發(fā)明的一種雙列直插式存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試方法、系統(tǒng)、介質(zhì)及裝置,用于防止在對(duì)于雙列直插式存儲(chǔ)器模塊的測(cè)試過程關(guān)閉服務(wù)器,及時(shí)發(fā)現(xiàn)不良的雙列直插式存儲(chǔ)器模塊。