一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201721617818.3 申請日 -
公開（公告）號 CN207488391U 公開（公告）日 2018-06-12
申請公布號 CN207488391U 申請公布日 2018-06-12
分類號 G01R31/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 佘強;江虹;朱曉輝;李煒 申請（專利權(quán)）人 北京華瑞達測控技術(shù)有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 北京華瑞達測控技術(shù)有限責(zé)任公司
地址 100083 北京市海淀區(qū)花園路1號塔院寫字樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種電子設(shè)備測試系統(tǒng)，涉及設(shè)備測試領(lǐng)域，包括：測量單元；激勵單元；多功能測試單元，多功能測試單元包括：擴展儀器接口、任意波輸出接口、矢量信號源輸出接口、模擬信號源輸出接口、探筆接口、測試接口、鉤式測試夾接口、通用擴展接口以及至少9個輔助連接開關(guān)，輔助連接開關(guān)為多路射頻開關(guān)。本實用新型借助多個輔助連接開關(guān)，通過選擇輔助連接開關(guān)內(nèi)部通路的方式，使得測量單元、激勵單元以及多功能測試單元的各子接口根據(jù)需要進行連通，從而滿足不同的測試需求，不必手動插拔連接導(dǎo)線降低測試連接錯誤的概率，提高工作人員的測試效率。