一種電子設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201721617818.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN207488391U | 公開(kāi)（公告）日 | 2018-06-12 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN207488391U | 申請(qǐng)公布日 | 2018-06-12 |
| 分類號(hào) | G01R31/00 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 佘強(qiáng);江虹;朱曉輝;李煒 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 北京華瑞達(dá)測(cè)控技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 北京華瑞達(dá)測(cè)控技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 地址 | 100083 北京市海淀區(qū)花園路1號(hào)塔院寫(xiě)字樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電子設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)，涉及設(shè)備測(cè)試領(lǐng)域，包括：測(cè)量單元；激勵(lì)單元；多功能測(cè)試單元，多功能測(cè)試單元包括：擴(kuò)展儀器接口、任意波輸出接口、矢量信號(hào)源輸出接口、模擬信號(hào)源輸出接口、探筆接口、測(cè)試接口、鉤式測(cè)試夾接口、通用擴(kuò)展接口以及至少9個(gè)輔助連接開(kāi)關(guān)，輔助連接開(kāi)關(guān)為多路射頻開(kāi)關(guān)。本實(shí)用新型借助多個(gè)輔助連接開(kāi)關(guān)，通過(guò)選擇輔助連接開(kāi)關(guān)內(nèi)部通路的方式，使得測(cè)量單元、激勵(lì)單元以及多功能測(cè)試單元的各子接口根據(jù)需要進(jìn)行連通，從而滿足不同的測(cè)試需求，不必手動(dòng)插拔連接導(dǎo)線降低測(cè)試連接錯(cuò)誤的概率，提高工作人員的測(cè)試效率。 |
