缺陷檢測(cè)方法、設(shè)備、系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811013103.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109426614A 公開（公告）日 2019-03-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN109426614A 申請(qǐng)公布日 2019-03-05
分類號(hào) G06F11/36;G06F8/41 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 時(shí)清凱;范剛;肖梟;周金果 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市源傘新科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律智知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 袁禮君;闞梓瑄
地址 518055 廣東省深圳市南山區(qū)西麗街道西麗中山園路1001號(hào)TCL國(guó)際E城C7-C棟201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：輸入待檢測(cè)的程序，并對(duì)待檢測(cè)的程序進(jìn)行預(yù)處理；生成待檢測(cè)的程序的符號(hào)表示圖，其中，符號(hào)表示圖中的節(jié)點(diǎn)表示程序中的變量，符號(hào)表示圖中的邊表示數(shù)據(jù)依賴性和控制依賴性，符號(hào)表示圖中還包括運(yùn)算符；沿著數(shù)據(jù)依賴性邊，向后遍歷該符號(hào)表示圖，以檢測(cè)缺陷。本發(fā)明的方法、裝置、設(shè)備通過遍歷本發(fā)明提出的符號(hào)表示圖，能夠高效地檢測(cè)空指針解引用或緩沖區(qū)溢出缺陷。