一種OLED微型顯示器件的像素缺陷檢測方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011460698.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112595726A | 公開（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112595726A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號(hào) | G01N21/95(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 孫浩;李牧詞;茆勝 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳市智聯(lián)匯網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)企業(yè)（有限合伙） |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海洞鑒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 劉少偉 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科豐路2號(hào)特發(fā)信息港D棟一樓東側(cè)2號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明為涉及一種OLED微型顯示器件的像素缺陷檢測方法，包括以下步驟：將待檢測樣品置于檢測平臺(tái)，并點(diǎn)亮所述待檢測樣品；通過圖像采集系統(tǒng)(CCD)獲取所述待檢測樣品的圖像信息；將所述圖像信息與基準(zhǔn)信息進(jìn)行對(duì)比，獲得實(shí)際缺陷數(shù)據(jù)。有益效果是：可以快速準(zhǔn)確的對(duì)OLED微型顯示器件的像素缺陷進(jìn)行檢測，并能完整記錄像素缺陷的形貌，并對(duì)像素缺陷的小大進(jìn)行量化處理，并對(duì)像素缺陷的位置進(jìn)行定位，提高了檢測效率，準(zhǔn)確性，對(duì)OLED微型顯示器件的工藝提高具有積極的幫助。?? |
