半導(dǎo)體晶體管外延結(jié)構(gòu)、其制備方法及半導(dǎo)體晶體管
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110529996.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113284947A | 公開(公告)日 | 2021-08-20 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113284947A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-20 |
分類號(hào) | H01L29/778(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李東昇;賈利芳;肖金平;逯永建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 杭州士蘭明芯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海思捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉暢 |
地址 | 310012浙江省杭州市黃姑山路4號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體晶體管外延結(jié)構(gòu)、其制備方法及半導(dǎo)體晶體管,其中所述半導(dǎo)體晶體管外延結(jié)構(gòu)從下至上依次包括:襯底、成核層、緩沖層、溝道層、復(fù)合勢(shì)壘層以及P型層,其中,所述復(fù)合勢(shì)壘層包括依次層疊的第一勢(shì)壘層和第二勢(shì)壘層,且所述第二勢(shì)壘層的Al組分含量低于所述第一勢(shì)壘層的Al組分含量。即本發(fā)明提供的半導(dǎo)體晶體管外延結(jié)構(gòu)中含有復(fù)合勢(shì)壘層,能夠保證晶體質(zhì)量的同時(shí),可以加強(qiáng)溝道二維電子氣的量子限制,減小電子遂穿幾率,從而更有效地緩解電流崩塌和柵極漏電流,提升晶體管器件性能。 |
