一種氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的制造方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810381129.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110400754B | 公開(公告)日 | 2022-03-08 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN110400754B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-08 |
分類號(hào) | H01L21/465(2006.01)I;H01L21/34(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 趙文達(dá);戴超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 南京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京銀龍知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 許靜 |
地址 | 210033 江蘇省南京市棲霞區(qū)天佑路7號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種氧化物薄膜晶體管的制造方法,該制造方法包括在形成源極和漏極后,使用兩種或兩種以上氣體對(duì)氧化物半導(dǎo)體層構(gòu)成的溝道區(qū)域進(jìn)行等離子體處理,其中至少包括一種非氧化性氣體;本發(fā)明的制造方法有效避免了使用單種非氧化性氣體進(jìn)行等離子體處理導(dǎo)致的電弧放電問題和使用單純氧化性氣體進(jìn)行等離子體處理導(dǎo)致的源漏極氧化問題,并且獲得的薄膜晶體管具有優(yōu)良的器件特性和均一性。 |
