電壓檢測(cè)電路
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200810202896.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN101408564A | 公開(kāi)(公告)日 | 2009-04-15 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN101408564A | 申請(qǐng)公布日 | 2009-04-15 |
分類號(hào) | G01R19/165(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 羅鵬;莊宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海貝嶺矽創(chuàng)微電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人 | 上海貝嶺矽創(chuàng)微電子有限公司;上海貝嶺股份有限公司 |
地址 | 200233上海市徐匯區(qū)宜山路829號(hào)北7樓A座 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提出一種電壓檢測(cè)電路,包括施密特整形電路和電壓調(diào)整電路。施密特整形電路包括輸入端和輸出端,上述輸出端輸出檢測(cè)電壓。電壓調(diào)整電路耦接電源電壓和上述施密特整形電路,以根據(jù)上述電源電壓的值輸出一輸入電壓至上述施密特整形電路。其中當(dāng)上述電源電壓大于預(yù)定值時(shí),上述輸入電壓由高變低,上述檢測(cè)電壓為低電平,當(dāng)上述電源電壓小于另一預(yù)定值時(shí),上述輸入電壓由低變高,上述檢測(cè)電壓為高電平。本發(fā)明中的電壓檢測(cè)電路具有高精度、低功耗和面積小的優(yōu)點(diǎn)。 |
