陣列基板的制備方法和陣列基板
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111518178.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114220772A | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114220772A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-22 |
分類號(hào) | H01L21/84(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李錦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 合肥維信諾科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張娜;臧建明 |
地址 | 230037安徽省合肥市新站區(qū)魏武路與新蚌埠路交口西南角 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N陣列基板的制備方法和陣列基板,該制備方法包括:提供襯底;在襯底上形成金屬氧化物半導(dǎo)體層、阻氫層和含氫層;其中,阻氫層位于金屬氧化物半導(dǎo)體層和含氫層之間;在形成阻氫層的步驟中包括:形成金屬層;氧化處理部分金屬層,保留其余部分金屬層;其中,氧化處理的金屬層形成阻氫層,保留的至少部分金屬層與金屬氧化物半導(dǎo)體層相對(duì)應(yīng),且分別形成金屬氧化物薄膜晶體管的柵極層和有源層。阻氫層用于阻擋含氫層中的氫擴(kuò)散到MO薄膜晶體管的有源層中。因此,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的陣列基板的制備方法和陣列基板,能夠提高金屬氧化物薄膜晶體管的可靠性,從而提高陣列基板的可靠性。 |
