半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910291073.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110021603B | 公開(公告)日 | 2021-09-14 |
申請公布號 | CN110021603B | 申請公布日 | 2021-09-14 |
分類號 | H01L27/11517;H01L27/11551;H01L27/11563;H01L27/11578 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 王賢超;徐楊 | 申請(專利權(quán))人 | 德淮半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 徐文欣;吳敏 |
地址 | 223302 江蘇省淮安市淮陰區(qū)長江東路599號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,包括:提供基底;在所述基底表面形成復(fù)合結(jié)構(gòu),所述復(fù)合結(jié)構(gòu)包括若干層復(fù)合層,且所述若干層復(fù)合層沿基底表面法線方向重疊,每一層復(fù)合層包括第一材料層以及位于第一材料層表面的第二材料層,且第一材料層的材料和第二材料層的材料不同;形成貫穿所述復(fù)合結(jié)構(gòu)的第一開口,所述第一開口暴露出基底表面;刻蝕第一開口四周的第二材料層,分別在各個所述第二材料層內(nèi)形成第一凹槽;在所述第一開口和第一凹槽內(nèi)形成第一互聯(lián)結(jié)構(gòu)。所述方法工藝步驟簡單,節(jié)省了制備成本。 |
