一種基于SRPUF的可靠性自檢和可靠響應(yīng)去偏方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210163141.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114679277A 公開（公告）日 2022-06-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN114679277A 申請(qǐng)公布日 2022-06-28
分類號(hào) H04L9/32（2006.01）I;H04L9/36（2006.01）I 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 賀章擎;馬丹;魯犇;朱昕蕊;張霄;張寅 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 湖北工業(yè)大學(xué)
代理機(jī)構(gòu) 武漢華強(qiáng)專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 430068湖北省武漢市洪山區(qū)南李路28號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種基于SR PUF的可靠性自檢和可靠響應(yīng)去偏方法，其特征在于：包括可靠性標(biāo)志生成部分和可靠響應(yīng)去偏部分，所述可靠性標(biāo)志生成部分包括控制模塊、基于PDL的SR Latch PUF模塊和可靠性標(biāo)志產(chǎn)生模塊，可靠響應(yīng)去偏方法分為響應(yīng)注冊(cè)階段和響應(yīng)恢復(fù)階段，對(duì)可靠響應(yīng)進(jìn)行去偏處理。本發(fā)明方法可以在芯片出廠時(shí)或者使用過程進(jìn)行實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)自檢，準(zhǔn)確性高且方式靈活，不需要出廠時(shí)改變環(huán)境溫度進(jìn)行極限測(cè)試，也可以實(shí)時(shí)檢測(cè)出老化或其他原因所引起的不可靠響應(yīng)。