一種寬頻帶高精度測向天線陣列全方位遍歷方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010786193.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112034417A 公開（公告）日 2020-12-04
申請公布號 CN112034417A 申請公布日 2020-12-04
分類號 G01S3/46(2006.01)I;G01S3/04(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 史治國;陳劍鋒;單國峰;高承醒 申請（專利權(quán)）人 浙江歐軟低空防務技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 杭州求是專利事務所有限公司 代理人 劉靜
地址 310058浙江省杭州市西湖區(qū)余杭塘路866號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種寬頻帶高精度測向天線陣列全方位遍歷方法。該方法在環(huán)境中均勻布置的若干個天線陣列的面線陣，通過天線陣列中的單個線陣探測時，需用電子開關(guān)關(guān)閉其他面線陣以降低干擾，而后根據(jù)需要探測的信號頻段的中心頻率，由本地產(chǎn)生一個參考信號，根據(jù)天線接收的信號與本地參考信號進行比較相位差，在事先利用“暗室標定+現(xiàn)場校正”方式建立的樣本表中查詢以獲得覆蓋范圍內(nèi)的來波方向；通過依次遍歷所有面線陣實現(xiàn)360°的全方位偵測測向；在現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(FPGA)上部署該天線陣列，加快天線陣列的遍歷速度，在實際應用時可實現(xiàn)多面線陣對多個頻段的同時測向、同時查表。??