顯示模組的缺陷檢測方法及設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110834561.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113466292A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
申請公布號 | CN113466292A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
分類號 | G01N25/72(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T7/70(2017.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 劉文波;王文飛;王俊 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州華興源創(chuàng)科技股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州威世朋知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 韓曉園 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)青丘巷8號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明揭示了一種顯示模組的缺陷檢測方法及設(shè)備。所述方法包括以下步驟:獲取缺陷顯示模組在未進(jìn)行通電檢測狀態(tài)下的第一熱成像圖片和缺陷顯示模組在通電檢測狀態(tài)下的第二熱成像圖片;通過對比第一熱成像圖片和第二熱成像圖片獲取缺陷顯示模組的缺陷的位置信息。所述設(shè)備包括:承載裝置、檢測裝置、缺陷定位裝置,缺陷定位裝置包括定位機(jī)構(gòu)、圖像獲取機(jī)構(gòu);定位機(jī)構(gòu)包括第一定位單元和第二定位單元,第一定位單元和第二定位單元均為熱成像相機(jī)。本發(fā)明通過第二定位單元獲取第一熱成像圖片和第二熱成像圖片,通過對比第一熱成像圖片和第二熱成像圖片可精確獲取缺陷的位置信息。 |
