光通道測量機(jī)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201911112551.6 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN111307832A | 公開（公告）日 | 2020-06-19 |
| 申請公布號 | CN111307832A | 申請公布日 | 2020-06-19 |
| 分類號 | G01N21/954(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 周豐偉;康信坤;徐彬 | 申請（專利權(quán)）人 | 無錫富瑞德測控儀器股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 無錫市大為專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 無錫富瑞德測控儀器股份有限公司 |
| 地址 | 214192江蘇省無錫市錫山經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)蓉通路75號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種光通道測量機(jī)，包括：測量裝置、入料輥道、合格輥道、不合格輥道、側(cè)推機(jī)構(gòu)、以及配套的電控裝置；所述入料輥道與合格輥道裝配成沿直線方向布設(shè)；在入料輥道與合格輥道相銜接位置設(shè)置測量工位，測量裝置安裝在所述測量工位；在合格輥道的所述測量工位下游的一側(cè)設(shè)置不合格輥道，并且在另一側(cè)設(shè)置側(cè)推機(jī)構(gòu)；所述測量裝置用于對待測部件的內(nèi)孔道進(jìn)行光檢測。具體地，所述測量裝置包括升降框架、上部升降機(jī)構(gòu)、下部升降機(jī)構(gòu)、上測頭組、下測頭組；所述上部升降機(jī)構(gòu)和下部升降機(jī)構(gòu)分別安裝在升降框架上。本發(fā)明能夠?qū)Υ郎y部件的內(nèi)孔道進(jìn)行檢測，減少對內(nèi)壁的傷害。?? |
