一種電子計(jì)量裝置檢測方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110867461.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113406429B 公開（公告）日 2021-11-12
申請公布號(hào) CN113406429B 申請公布日 2021-11-12
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 于浩;劉立斌 申請（專利權(quán)）人 廣東競合基業(yè)科技服務(wù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京清控智云知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 馬肅
地址 528251廣東省佛山市南海區(qū)桂城街道金科路6號(hào)粵港金融科技園1座11樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明屬于數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種電子計(jì)量裝置的檢測方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。所述方法包括：先獲取所述電容觸控屏的壞點(diǎn)，其中，壞點(diǎn)是指所述電容觸控屏中電容值不滿足標(biāo)準(zhǔn)條件的電容點(diǎn)，然后當(dāng)以所述壞點(diǎn)為檢測起點(diǎn)，在電容點(diǎn)的排列順序上連續(xù)預(yù)設(shè)數(shù)量的電容點(diǎn)均為壞點(diǎn)時(shí)，確定電子計(jì)量裝置為電容觸控屏不合格產(chǎn)品。通過獲取電容觸控屏找那個(gè)電容值不正常的壞點(diǎn)，并以檢測到的首個(gè)壞點(diǎn)為基點(diǎn)，連續(xù)檢測排列順上的其他電容點(diǎn)，以確定電子計(jì)量裝置是否為合格產(chǎn)品。解決了通過人工檢測所述電容觸控屏是否損壞，檢測效率低，且誤差較高這一技術(shù)問題，進(jìn)而能夠提高所述檢測效率以及提高電子計(jì)量裝置的計(jì)量精度等技術(shù)效果。