確定磁導系數的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911421707.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113126008B 公開（公告）日 2022-05-31
申請公布號 CN113126008B 申請公布日 2022-05-31
分類號 G01R33/12（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫珊珊;史學偉;王進東;鈕萼;王湛;饒曉雷;胡伯平 申請（專利權）人 北京中科三環(huán)高技術股份有限公司
代理機構 北京英創(chuàng)嘉友知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 -
地址 100190北京市海淀區(qū)中關村東路66號甲1號長城大廈27層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種確定磁導系數的方法，以解決相關技術中無法測量非圓柱體、非長方體、非橢球體等形狀磁體磁導系數的問題。該方法用于確定任意形狀磁體的磁導系數，包括：確定磁體樣品在第一溫度下的第一退磁曲線，并根據第一退磁曲線，確定第一剩余磁感應強度和第一矯頑力值；確定磁體樣品在第二溫度下的第二退磁曲線，并根據第二退磁曲線，確定第二剩余磁感應強度和第二矯頑力值，第二溫度大于第一溫度；確定磁體樣品從第三溫度升溫至第二溫度、再降溫至第三溫度的減磁率；按照相應公式，確定磁體樣品的磁導系數。