試件自動測量系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110616983.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113237759A 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN113237759A 申請公布日 2021-08-10
分類號 G01N3/08（2006.01）I;G01N3/04（2006.01）I;G01N3/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 董延東;王凱聞;程營超;劉世康;王立剛;徐趙輝;孫金虎;喬德慧;張利凡;劉紅艷;徐紅運 申請（專利權(quán)）人 濟南天辰試驗機制造有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 250100山東省濟南市高新區(qū)科云路88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種試件自動測量系統(tǒng)，包括依次排列的試件送進裝置、試件旋轉(zhuǎn)裝置、試件送出裝置和試件抓取裝置，試件抓取裝置可將試件送進裝置上的試件抓取到試件旋轉(zhuǎn)裝置上、或從試件旋轉(zhuǎn)裝置上抓取到試件送出裝置上，試件測量裝置設(shè)置于支架上并與試件旋轉(zhuǎn)裝置相對應(yīng)，試件測量裝置的高度高于試件旋轉(zhuǎn)裝置上試件的高度。試件測量裝置采用三維尺寸測量儀，與試件旋轉(zhuǎn)裝置配合使用，可對試件旋轉(zhuǎn)裝置上的試件的上頂面和側(cè)面進行掃描，可以自動測量試塊邊長、承壓面平面度以及鄰面垂直度，測量數(shù)據(jù)自動上傳管理系統(tǒng)，三維尺寸測量儀采用多頻像移技術(shù)，結(jié)合反差增強面結(jié)構(gòu)光柵，運用逐像素補償技術(shù)，修正高階畸變，測量精度、掃描時間短。