一種利用SH波測量套管井固井膠結(jié)質(zhì)量的方法及系統(tǒng)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011456530.9 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112593926A | 公開（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請公布號(hào) | CN112593926A | 申請公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號(hào) | E21B47/005(2012.01)I | 分類 | 土層或巖石的鉆進(jìn)；采礦; |
| 發(fā)明人 | 沈永進(jìn);汪文潔 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京華暉探測科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 101322北京市順義區(qū)趙全營鎮(zhèn)兆豐產(chǎn)業(yè)基地園盈路7號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種利用SH波測量套管井固井膠結(jié)質(zhì)量的方法及系統(tǒng)。該方法包括：在套管井中將發(fā)射探頭推靠到井壁，通過所述發(fā)射探頭在套管內(nèi)壁上激發(fā)SH波；在設(shè)定的源距位置處將接收探頭推靠到井壁，通過所述接收探頭接收套管中沿圓周方向的SH波；判斷接收到的所述SH波的幅度是否大于設(shè)定幅度閾值；若是，則說明所述I界面或所述II界面膠結(jié)質(zhì)量差；若否，則說明所述I界面和所述II界面的膠結(jié)質(zhì)量都好；當(dāng)I界面或II界面膠結(jié)質(zhì)量差時(shí)，通過多個(gè)接收波形獲取頻散曲線；根據(jù)所述頻散曲線的形狀和個(gè)數(shù)，確定界面膠結(jié)質(zhì)量結(jié)果，所述界面膠結(jié)質(zhì)量結(jié)果為I界面膠結(jié)質(zhì)量差和II界面膠結(jié)質(zhì)量差。本發(fā)明直接測量套管內(nèi)壁的SH波，對套管井I界面和II界面上的水層敏感，因此能夠精確地對固井質(zhì)量進(jìn)行有效測量和評(píng)價(jià)。?? |
