利用軸對稱探頭在地面激發(fā)的SH波進(jìn)行淺層勘探的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111454791.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114114401A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114114401A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01V1/28（2006.01）I;G01V1/30（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 沈永進(jìn) 申請（專利權(quán)）人 北京華暉探測科技股份有限公司
代理機構(gòu) 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 代理人 吳學(xué)穎
地址 101300北京市順義區(qū)趙全營鎮(zhèn)兆豐產(chǎn)業(yè)基地園盈路7號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種利用軸對稱探頭在地面激發(fā)的SH波進(jìn)行淺層勘探的方法：軸對稱發(fā)射探頭扎在地面，激發(fā)圓周方向振動，以SH波方式傳播；沿發(fā)射探頭徑向放置陣列接收探頭，測量不同源距處SH波波形，接收圓周方向振動；對SH波波形進(jìn)行處理，得到波數(shù)?頻率分布曲線和時差頻散曲線；將波數(shù)?頻率分布曲線轉(zhuǎn)換為波數(shù)的倒數(shù)，得到深度?時差關(guān)系曲線；在波數(shù)?頻率平面將高階模式波分布曲線延伸到波數(shù)為0的頻率軸上，獲得對應(yīng)的頻率，獲得地層深度；根據(jù)實際的時差頻散曲線假設(shè)模型，計算時差頻散曲線，與實測時差頻散曲線對比，修改模型及其參數(shù)重新計算，與實測的時差頻散曲線一致后，其模型即實際測量地層的模型。本發(fā)明提高了勘探精度和空間分辨率。