一種FPI批量測(cè)試系統(tǒng)及其測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111406674.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114113871A 公開(公告)日 2022-03-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114113871A 申請(qǐng)公布日 2022-03-01
分類號(hào) G01R31/01(2020.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 黃錦標(biāo);林琳;郭斌 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳市海譜納米光學(xué)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廈門福貝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 陳遠(yuǎn)洋
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)69區(qū)中糧創(chuàng)芯研發(fā)中心1棟1903,1904
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種FPI批量測(cè)試系統(tǒng),包括控制器、第一多路復(fù)用器、第二多路復(fù)用器以及FPI承載模塊;所述FPI承載模塊包括m條橫向選通線、n條豎向選通線以及由m行n列FPI載具組成的FPI載具陣列,所述FPI載具陣列用于承載待測(cè)試的FPI,從而構(gòu)成FPI陣列;m條所述橫向選通線的一端均電性連接第一多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對(duì)應(yīng)行的n個(gè)FPI,n條所述豎向選通線的一端均電性連接第二多路復(fù)用器,且另一端分別并聯(lián)所述FPI陣列對(duì)應(yīng)列的m個(gè)FPI;還包括成像設(shè)備,所述成像設(shè)備用于采集所述FPI陣列的干涉圖像。本發(fā)明通過搭建FPI承載模塊,基于多路復(fù)用器構(gòu)建FPI選通陣列,兼容了個(gè)體間的差異,滿足FPI批量化測(cè)試需求,因此大大的提高了FPI的測(cè)試效率。