一種用于光學元器件檢測的系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122378470.X 申請日 -
公開（公告）號 CN215865752U 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN215865752U 申請公布日 2022-02-18
分類號 G01M11/04（2006.01）I;G01M11/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 林琳;黃創(chuàng)文 申請（專利權(quán)）人 深圳市海譜納米光學科技有限公司
代理機構(gòu) 廈門福貝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳遠洋
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)69區(qū)中糧創(chuàng)芯研發(fā)中心1棟1903，1904
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于光學元器件檢測的系統(tǒng)，包括恒溫箱、溫控器和熱傳感元件，恒溫箱中空且底部內(nèi)壁設(shè)有加熱元件，恒溫箱的中空腔內(nèi)底部設(shè)有用于承載光學元器件的承載臺；恒溫箱的頂部和底部設(shè)有與承載臺的位置相對應(yīng)的通光孔；熱傳感元件設(shè)于靠近光學元器件的上方并不干涉光學元器件的位置，溫控器與加熱元件和熱傳感元件分別電連接，以調(diào)節(jié)恒溫箱內(nèi)的檢測溫度至恒溫。通過在恒溫箱上開設(shè)通光區(qū)域，內(nèi)置熱傳感元件反饋溫度，并由溫控器對比預(yù)設(shè)溫度與反饋溫度控制加熱元件的開關(guān)，使待測元器件所在的檢測環(huán)境溫度保持在設(shè)定的溫度范圍內(nèi)，適用于檢測光學元器件及其組件的溫度變化性能及光路折射性能。