一種對高光譜圖像進行點對點白參比校正的方法與系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111477742.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113920113B 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN113920113B 申請公布日 2022-03-18
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06V10/58（2022.01）I;G06V10/25（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃錦標(biāo);郁幸超;任哲;郭斌 申請（專利權(quán)）人 深圳市海譜納米光學(xué)科技有限公司
代理機構(gòu) 廈門福貝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳遠(yuǎn)洋
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)新安街道興東社區(qū)69區(qū)中糧創(chuàng)芯研發(fā)中心1棟1903，1904
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明給出了一種對高光譜圖像進行點對點白參比校正的方法與系統(tǒng)，包括預(yù)先拍攝標(biāo)準(zhǔn)參考白板的高光譜數(shù)據(jù)white（x,y,w），并存儲記錄；再拍攝樣品數(shù)據(jù)高光譜數(shù)據(jù)sample（x,y,w）；在樣品高光譜數(shù)據(jù)sample（x,y,w）中選取一小塊沒有被遮擋的白板區(qū)域，記為區(qū)域A；在樣品圖像上計算該ROI區(qū)域內(nèi)的光譜平均值，得到SA（w）；并計算白板數(shù)據(jù)中相同ROI區(qū)域內(nèi)的平均光譜，得到WA（w）；兩者相除，得到矯正系數(shù)alpha（w）；將白參矯正系數(shù)alpha（w）乘以白參比矯正后的樣品反射率圖像矩陣，得到最終的高光譜反射比圖像矩陣。本發(fā)明無需單獨采集白板光譜，降低了數(shù)據(jù)采集時間，增加了分析效率，可以有效提升高光譜分析的準(zhǔn)確性；并且，使用同一次拍攝的數(shù)據(jù)做白參矯正，大大增加了測量的可靠性和可重復(fù)性。