一種AOI雙工位自動檢測下料裝盒設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111209412.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113941518A 公開（公告）日 2022-01-18
申請公布號 CN113941518A 申請公布日 2022-01-18
分類號 B07C5/34（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 謝鈺峰 申請（專利權(quán)）人 蘇州日和科技有限公司
代理機構(gòu) 濟南舜科知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 張帥
地址 215000江蘇省蘇州市吳江區(qū)友誼路417號蘇州日和科技有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種AOI雙工位自動檢測下料裝盒設(shè)備，涉及自動光學(xué)檢測設(shè)備領(lǐng)域，包括檢測設(shè)備框架，所述檢測設(shè)備框架頂部中間設(shè)置有兩組測試平臺，所述檢測設(shè)備框架頂部位于所述測試平臺一側(cè)處設(shè)置有精定位機構(gòu)，所述檢測設(shè)備框架頂部設(shè)置有與所述精定位機構(gòu)及所述測試平臺配合的上料機械臂，所述檢測設(shè)備框架頂部設(shè)置有與所述測試平臺配合的下料機械臂。本發(fā)明通過上料機械臂將來料放置于精定位機構(gòu)上進行外觀檢測，檢測完畢后通過上料機械臂將來料放置于測試平臺進行點燈測試，通過上料機械臂將來料間隔輸送到兩組測試平臺上，避免傳統(tǒng)檢測設(shè)備由于點亮檢測速度較慢，導(dǎo)致與其搭配的外觀檢測工作效率被降低的弊端。