半導(dǎo)體器件的集電極結(jié)構(gòu)及TI-IGBT
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201410133404.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN104979378B | 公開(公告)日 | 2020-01-31 |
申請公布號 | CN104979378B | 申請公布日 | 2020-01-31 |
分類號 | H01L29/417(2006.01); H01L29/739(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張文亮; 朱陽軍; 滕淵 | 申請(專利權(quán))人 | 上海聯(lián)星電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王寶筠 |
地址 | 200120 上海市浦東新區(qū)金橋路939號宏南投資大廈1513室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種半導(dǎo)體器件的集電極結(jié)構(gòu)及TI?IGBT,其中集電極結(jié)構(gòu)包括:與漂移區(qū)的摻雜類型相反的集電區(qū);與漂移區(qū)的摻雜類型相同的短路區(qū),短路區(qū)與集電區(qū)相互隔離;形成于集電區(qū)與短路區(qū)背離漂移區(qū)一側(cè)的集電極;覆蓋集電區(qū)與短路區(qū)之間的集電極的絕緣體,絕緣體背離漂移區(qū)一側(cè)的表面與集電區(qū)和短路區(qū)之間的集電極的表面相接觸,朝向漂移區(qū)一側(cè)的表面與漂移區(qū)的表面相接觸,且與集電區(qū)和短路區(qū)均相接觸。由于上述背面結(jié)構(gòu)中從集電區(qū)上方傳輸至短路區(qū)的電子電流的傳導(dǎo)路徑為集電極上方→絕緣體上方→短路區(qū)上方,因此電子傳導(dǎo)路徑的電阻較大,從而用更小尺寸的集電區(qū)就可以完全抑制回跳現(xiàn)象,最終提高了器件的抗短路和功率循環(huán)能力。 |
