一種濃度梯度校準(zhǔn)芯片的制備方法及其校準(zhǔn)方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910504594.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110146477A 公開（公告）日 2019-08-20
申請公布號 CN110146477A 申請公布日 2019-08-20
分類號 G01N21/64 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吉鋒;張冠斌;安爽;鄭雙奇 申請（專利權(quán)）人 成都博奧新景醫(yī)學(xué)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 成都博奧晶芯生物科技有限公司;成都博奧新景醫(yī)學(xué)科技有限公司
地址 611135 四川省成都市溫江區(qū)永寧鎮(zhèn)八一路北段88號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種濃度梯度校準(zhǔn)芯片的制備方法，包括如下步驟：取含有反應(yīng)池的微流體芯片；用熒光納米材料配制形成混合液，并將該混合液按比例稀釋成不同的梯度濃度；將不同梯度濃度的混合液分別點制在各個反應(yīng)池內(nèi)；經(jīng)點制完成的微流體芯片表面上覆膜形成校準(zhǔn)芯片；還公開了濃度梯度校準(zhǔn)芯片的校準(zhǔn)方法，包括：采集一組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)和一組待測數(shù)據(jù)；將標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)與待測數(shù)據(jù)作線性擬合，計算兩組數(shù)據(jù)的線性相關(guān)系數(shù)R2和斜率K值，并判斷是否滿足線性相關(guān)系數(shù)R2＞0.95，0.95＜斜率K值＜1.05，以最終完成校準(zhǔn)，以達(dá)到對儀器熒光信號范圍校準(zhǔn)且校準(zhǔn)準(zhǔn)確性較高的目的，同時能夠提高校準(zhǔn)芯片的制備成品率，降低制備成本。