一種磁光克爾圖像配準(zhǔn)矯正方法、系統(tǒng)及顯微鏡系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202010919600.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112037270A | 公開(公告)日 | 2020-12-04 |
申請公布號 | CN112037270A | 申請公布日 | 2020-12-04 |
分類號 | G06T7/32;G06T7/37 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 張杰;徐蔚;張學(xué)瑩;王麟;李紹新 | 申請(專利權(quán))人 | 致真精密儀器(青島)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京智繪未來專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 北京航空航天大學(xué);致真精密儀器(青島)有限公司 |
地址 | 100191 北京市海淀區(qū)學(xué)院路37號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種磁光克爾圖像配準(zhǔn)矯正方法、系統(tǒng)及顯微鏡系統(tǒng),方法包括以下步驟:步驟1,選擇參考圖像與待處理圖像,選擇參考區(qū)域;步驟2,使用相位相關(guān)法得到相位相關(guān)矩陣;步驟3,使用奇異值分解法得到頻域上線性相位,使用擬合法處理該線性相位,得到橫偏移量和縱偏移量;步驟4,自動移動待處理圖像;步驟5,將參考圖像和自動移動后的待處理圖像做差,觀察圖像自動校正結(jié)果,步驟6,自定義輸入任意橫、縱偏移量、旋轉(zhuǎn)角度,移動待處理圖像,將參考圖像和所述自定義移動后的待處理圖像做差,觀察圖像自定義校正結(jié)果;步驟7,存儲配準(zhǔn)矯正效果圖像。本發(fā)明可以完成亞像素精度的自動配準(zhǔn)矯正,可自動執(zhí)行預(yù)處理、偏移量計算、配準(zhǔn)矯正等操作。 |
