接觸電阻的測(cè)量方法及其測(cè)量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610316308.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN105738704B 公開(kāi)（公告）日 2019-03-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN105738704B 申請(qǐng)公布日 2019-03-05
分類號(hào) G01R27/08;H02S50/10 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 閆麗;張聞斌;王琪;顧凱;陸軍威 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州協(xié)鑫集成科技工業(yè)應(yīng)用研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 蘇州協(xié)鑫集成科技工業(yè)應(yīng)用研究院有限公司;協(xié)鑫集成科技（蘇州）有限公司;協(xié)鑫集成科技股份有限公司
地址 215000 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)鐘慧路58號(hào)2幢125室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光伏領(lǐng)域，具體公開(kāi)了一種接觸電阻的測(cè)量方法，包括如下步驟：將光生伏特體外部短路；用開(kāi)爾文掃描探針以非接觸式方式與光源同步逐個(gè)掃描所述光生伏特體表面的各個(gè)掃描點(diǎn)，并得到每個(gè)所述掃描點(diǎn)的光電壓Vp，同時(shí)記錄每個(gè)所述掃描點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的所述光生伏特體的外部短路電流I；按照公式Rcl＝C·Vp/I，計(jì)算得到每個(gè)掃描點(diǎn)的接觸電阻；其中，C為經(jīng)驗(yàn)修正因子。上述接觸電阻的測(cè)量方法，可實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)能電池的接觸電阻的無(wú)損檢測(cè)；同時(shí)無(wú)需對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行特殊的電極設(shè)計(jì)，并且能夠?qū)φ麄€(gè)太陽(yáng)能電池進(jìn)行面掃描。另外該方法還適于測(cè)量異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)能電池。本發(fā)明還公開(kāi)了一種接觸電阻的測(cè)量裝置。