電容器高溫老化臺(tái)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN97246388.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN2370547Y | 公開(kāi)（公告）日 | 2000-03-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN2370547Y | 申請(qǐng)公布日 | 2000-03-22 |
| 分類(lèi)號(hào) | H01G13/00;G01R31/00 | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 曹驥 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 杭州通測(cè)微電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 浙江省專(zhuān)利事務(wù)所 | 代理人 | 王兵 |
| 地址 | 310021浙江省杭州市彭埠支路88號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及一種用于電容器老化試驗(yàn)的高溫老化臺(tái),包括殼體,殼體內(nèi)裝有老化電源、高溫箱、老化板,其特征在于還包括由繼電器觸點(diǎn)構(gòu)成的控制板和帶有微處理器的控制儀,老化電源通過(guò)所述控制板連接老化板,控制儀連接控制板,控制電源連接控制儀和控制板?？蓮V泛應(yīng)用于電容器生產(chǎn)、使用廠家和研究所。 |
