印刷缺陷檢測(cè)模型及印刷缺陷檢測(cè)方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210327618.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114648515A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-06-21 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114648515A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-21 |
| 分類(lèi)號(hào) | G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I | 分類(lèi) | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 陳斌;王佑芯;張?jiān)?陳子和 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 哈爾濱工業(yè)大學(xué)重慶研究院 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海雙誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 401120重慶市渝北區(qū)龍興鎮(zhèn)兩江大道618號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)的印刷缺陷檢測(cè)模型及印刷缺陷檢測(cè)方法，涉及人工智能領(lǐng)域，利用2個(gè)結(jié)構(gòu)相同的多尺度骨架網(wǎng)絡(luò)，同時(shí)提取參考圖像Iref及待檢測(cè)圖像Idet的語(yǔ)義特征圖，根據(jù)參考圖像Iref的多個(gè)語(yǔ)義特征圖與待檢測(cè)圖像Idet的多個(gè)語(yǔ)義特征圖，計(jì)算參考圖像Iref與待檢測(cè)圖像Idet之間的相似度，根據(jù)該相似度，判斷待檢測(cè)圖像Idet是否存在印刷缺陷，可以有效地檢測(cè)印刷品中存在的缺陷，提高了檢測(cè)性能，訓(xùn)練印刷缺陷檢測(cè)模型時(shí)不需要人工標(biāo)注，極大地降低了訓(xùn)練成本，使用時(shí)不需要專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行調(diào)試，提高了易用性。 |
