透過(guò)率測(cè)試裝置及透過(guò)率測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410778709.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN104458661A 公開（公告）日 2015-03-25
申請(qǐng)公布號(hào) CN104458661A 申請(qǐng)公布日 2015-03-25
分類號(hào) G01N21/59(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 宋光均;吳劍峰;鄭祥利 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 廣州易諾光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 廣州易諾光電科技有限公司;廣州標(biāo)旗電子科技有限公司
地址 510530 廣東省廣州市廣州高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)城彩頻路7號(hào)701A
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種透過(guò)率測(cè)試裝置及透過(guò)率測(cè)試方法，獲得測(cè)試光照數(shù)據(jù)及參比光照數(shù)據(jù)：樣品放于任一進(jìn)光口的光通路上，發(fā)光器發(fā)出的測(cè)試光穿透樣品從該進(jìn)光口射入積分球，檢測(cè)器測(cè)試此時(shí)檢測(cè)口的測(cè)試光照數(shù)據(jù)；樣品放于任一進(jìn)光口的光通路上，發(fā)光器發(fā)出的測(cè)試光從另一進(jìn)光口射入積分球，檢測(cè)器測(cè)試此時(shí)檢測(cè)口的參比光照數(shù)據(jù)；比較測(cè)得的測(cè)試光照數(shù)據(jù)及參比光照數(shù)據(jù)，獲得樣品的透過(guò)率。消除樣品的二次反射、測(cè)試光從樣品處溢出導(dǎo)致測(cè)試的透過(guò)率結(jié)果出現(xiàn)誤差，提高樣品透過(guò)率的測(cè)試精度。