EMI測量系統(tǒng)脈沖強度測量裝置及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611019471.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106680618A 公開（公告）日 2017-05-17
申請公布號 CN106680618A 申請公布日 2017-05-17
分類號 G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 汪桃林;范鳳軍;陳斌;謝恒貴;馬秋萍;戴利劍;曹煥麗 申請（專利權(quán)）人 上海航天探維傳媒科技有限公司
代理機構(gòu) 上海航天局專利中心 代理人 余岢
地址 201109 上海市閔行區(qū)元江路3888號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了EMI測量系統(tǒng)脈沖強度測量裝置及測量方法，本發(fā)明公開的EMI測量系統(tǒng)脈沖強度測量裝置包括：寬帶衰減器、寬帶示波器、PC機；寬帶衰減器對脈沖信號作衰減處理；寬帶示波器采集衰減處理后的脈沖信號；PC機控制寬帶示波器自動截取單脈沖波形，并計算脈沖強度。通過本發(fā)明可以快速測量脈沖強度參數(shù)。