基于量子糾纏的密封性檢測(cè)方法及裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111134958.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN114001866A | 公開（公告）日 | 2022-02-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114001866A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-01 |
| 分類號(hào) | G01M3/02（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 王樂康;梁剛;周瑞;吳連超;潘園園 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 浙江三維利普維網(wǎng)絡(luò)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 范麗霞 |
| 地址 | 310051浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道火炬大道581號(hào)C座2004室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)涉及密封性檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種基于量子糾纏的密封性檢測(cè)方法及裝置，所述方法包括：在所述密封設(shè)備內(nèi)的第一密封真空空間內(nèi)設(shè)置第一粒子，所述第一密封真空空間與所述密封設(shè)備的密封性相關(guān)聯(lián)；在所述密封設(shè)備外的第二密封真空空間內(nèi)的設(shè)置第二粒子，所述第二粒子與第一粒子為量子糾纏的粒子對(duì)；對(duì)所述第二粒子的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，并基于所述第二粒子的狀態(tài)確定所述密封設(shè)備的密封性。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程對(duì)密封設(shè)備進(jìn)行密封性檢測(cè)，相比于現(xiàn)有技術(shù)，檢測(cè)方法更加簡(jiǎn)單效率高，且對(duì)檢測(cè)設(shè)備的要求更低。 |
