一種電壓檢測(cè)延時(shí)屏蔽電路
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201510883136.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN105610419A | 公開(公告)日 | 2016-05-25 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN105610419A | 申請(qǐng)公布日 | 2016-05-25 |
分類號(hào) | H03K17/28(2006.01)I;H03K19/0185(2006.01)I | 分類 | 基本電子電路; |
發(fā)明人 | 周堯;劉桂芝;黃年亞;王冬峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 無錫矽林威電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 無錫矽林威電子有限公司 |
地址 | 214000 江蘇省無錫市無錫國家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)長(zhǎng)江路21號(hào)信息產(chǎn)業(yè)科技園F座-樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電壓檢測(cè)延時(shí)屏蔽電路,包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第四PMOS管和第五PMOS管;所述第一NMOS管、第二NMOS管和第三NMOS管構(gòu)成為整個(gè)電路提供偏置電流的電流鏡;所述第四PMOS管的源極與輸入電壓信號(hào)VIN連接,所述第五PMOS管的源極與輸入電壓信號(hào)TEST?PIN連接;所述第四PMOS管的漏極與所述第二NMOS管的漏極連接;所述第五PMOS管的漏極與所述第三NMOS管的漏極連接;所述第五PMOS管的柵極分別與所述第四PMOS管的柵極和漏極連接。本發(fā)明電路輸出信號(hào)時(shí),當(dāng)輸出信號(hào)為高時(shí),屏蔽內(nèi)部延時(shí);輸出為低電平時(shí),內(nèi)部延時(shí)電路正常工作。 |
