一種微波電場強度測量方法和測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710400038.1 申請日 -
公開（公告）號 CN107179450B 公開（公告）日 2019-10-11
申請公布號 CN107179450B 申請公布日 2019-10-11
分類號 G01R29/12 分類 測量；測試;
發(fā)明人 廖開宇;何鵬;張新定;黃巍;杜炎雄;顏輝 申請（專利權(quán)）人 清遠(yuǎn)市天之衡量子科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州容大專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 華南師范大學(xué)
地址 510000 廣東省廣州市天河區(qū)中山大道西55號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種微波電場強度測量方法及測量裝置，所述測量方法包括如下步驟：將第一激光器產(chǎn)生的探測光分為兩束相同的探測光，其中一束探測光進(jìn)入銣泡，另一束探測光進(jìn)入真空設(shè)備；第二激光器產(chǎn)生的耦合光進(jìn)入銣泡，耦合光和探測光將銣泡中的熱原子從基態(tài)相干激發(fā)到里德堡態(tài)，并在原子蒸氣室內(nèi)實現(xiàn)電磁誘導(dǎo)透明；將微波源產(chǎn)生的微波電場施加到熱原子上，將另一鄰近里德堡態(tài)耦合到三能級EIT系統(tǒng)上，形成一個四能級系統(tǒng)；分別探測從銣泡和真空設(shè)備出射的兩路透射光，通過分析兩路透射光的色散關(guān)系，確定兩路透射光的時間差，即可獲得微波電場強度。