基于弱測量的波函數(shù)直接測量方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711465638.2 申請日 -
公開（公告）號 CN108240869B 公開（公告）日 2019-12-31
申請公布號 CN108240869B 申請公布日 2019-12-31
分類號 G01J11/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 鄭翔;廖開宇;周憶如;張新定;張善超;顏輝 申請（專利權(quán)）人 清遠市天之衡量子科技有限公司
代理機構(gòu) 廣州容大專利代理事務所（普通合伙） 代理人 華南師范大學
地址 510000 廣東省廣州市天河區(qū)中山大道西55號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于弱測量的波函數(shù)直接測量方法及裝置，該方法包括如下步驟：在某一時刻對待測單光子施加相位調(diào)制，調(diào)制深度控制到微擾程度；在同一時刻對待測單光子施加振幅調(diào)制，調(diào)制深度同樣控制到微擾程度；將沒有經(jīng)過弱調(diào)制的單光子、經(jīng)過相位弱調(diào)制的單光子以及經(jīng)過振幅弱調(diào)制的單光子進行頻域強選擇，選出特定頻率光子進行符合計數(shù)；采集特定頻率的沒有經(jīng)過弱調(diào)制的光子數(shù)、經(jīng)過相位弱調(diào)制的光子數(shù)以及經(jīng)過振幅弱調(diào)制的光子數(shù)，進行比較計算可以還原出弱值及待測波函數(shù)。本發(fā)明將實現(xiàn)對波函數(shù)的直接非破壞性測量，同時由于預選態(tài)與后選態(tài)趨于正交，弱值理論上可以接近無限大，大幅提升測量精度和有效性。