一種用于芯片的智能檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110957249.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113410154A 公開（公告）日 2021-09-17
申請公布號 CN113410154A 申請公布日 2021-09-17
分類號 H01L21/66（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 鄭梅枝 申請（專利權）人 深圳市輕生活科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市福田區(qū)福田街道福民社區(qū)濱河大道5003號愛地大廈東座1502
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種用于芯片的智能檢測方法，步驟1：對目標芯片進行基礎檢測，當基礎檢測合格之后，按照目標芯片在不同環(huán)境下的執(zhí)行屬性，對目標芯片進行區(qū)域劃分，并獲取每個區(qū)域的區(qū)域檢測列表；步驟2：按照區(qū)域檢測列表，向對應區(qū)域分配檢測方式列表，并基于檢測方式列表中的檢測方式對區(qū)域檢測列表中的區(qū)域構件進行相應檢測，判斷目標芯片是否合格通過基礎檢測并結合對不同環(huán)境下的區(qū)域的檢測列表中的構件進行對應方式的檢測，提高檢測有效性，保證芯片使用效率。