一種芯片外觀不良分揀方法和系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110905324.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113333306B 公開（公告）日 2021-10-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN113333306B 申請(qǐng)公布日 2021-10-08
分類號(hào) B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 鄭梅枝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市輕生活科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518000 廣東省深圳市福田區(qū)福田街道福民社區(qū)濱河大道5003號(hào)愛地大廈東座1502
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種芯片外觀不良分揀方法和系統(tǒng)，所述方法包括：檢測(cè)識(shí)別外觀不良的芯片，并對(duì)所述外觀不良芯片上打上不良外觀標(biāo)定識(shí)別碼；在芯片傳輸過(guò)程中實(shí)時(shí)掃描每個(gè)芯片，確定所述芯片上是否存在不良外觀標(biāo)定識(shí)別碼；當(dāng)檢測(cè)到芯片存在不良外觀標(biāo)定識(shí)別碼時(shí)，控制推送裝置將所述帶有不良外觀標(biāo)定識(shí)別碼的芯片推至芯片傳送帶的外觀不良芯片所在傳送區(qū)域，并對(duì)芯片傳送帶上運(yùn)行方向上的第一個(gè)推送裝置的推送次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)；控制反推裝置對(duì)外觀不良芯片所在傳送區(qū)域內(nèi)的芯片進(jìn)行復(fù)核檢測(cè)，在復(fù)合檢測(cè)無(wú)誤后，在外觀不良芯片所在傳送區(qū)域?qū)в兴鲂酒嬖诓涣纪庥^標(biāo)定識(shí)別碼的芯片盡進(jìn)行分揀。所述系統(tǒng)包括與所述方法步驟對(duì)應(yīng)的模塊。