一種用于真空等離子體設(shè)備的勻氣環(huán)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020567761.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN212010899U | 公開(公告)日 | 2020-11-24 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN212010899U | 申請(qǐng)公布日 | 2020-11-24 |
分類號(hào) | H01J37/32(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 彭帆;漆宏俊;夏歡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 上海稷以科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 200240上海市閔行區(qū)東川路555號(hào)戊樓4026室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種用于真空等離子體設(shè)備的勻氣環(huán),包括等離子體區(qū)域、氣體噴淋盤、上腔體、下腔體和下電極,所述氣體噴淋盤和下電極之間為等離子體區(qū)域,等離子體區(qū)域的一側(cè)設(shè)有上腔體和下腔體,下電極和下腔體之間設(shè)有排氣環(huán),其特征在于,所述下腔體與排氣環(huán)之間設(shè)有排氣通道,本實(shí)用新型提出的排氣環(huán)與下電極之間配合形成的排氣通道可以具有更大的深寬比(大于15:1至40:1),而且排氣通道入口與上下電極之間形成的電場(chǎng)方形垂直,具有更好的等離子體隔離效果,最終形成更高的等離子體濃度,實(shí)現(xiàn)更快的樣品表面等離子處理或刻蝕速度。?? |
