一種扇出芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910801741.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN110517992B | 公開(公告)日 | 2021-09-07 |
申請公布號 | CN110517992B | 申請公布日 | 2021-09-07 |
分類號 | H01L23/31;H01L23/485;H01L23/488;H01L21/56;H01L21/60 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 姚大平 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇中科智芯集成科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張琳琳 |
地址 | 221100 江蘇省徐州市州經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)軟件園E1棟904室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種扇出芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法,該封裝結(jié)構(gòu)包括:塑封體,內(nèi)部封裝有至少一顆芯片;芯片的器件面顯露于塑封體外;互連層,設置于塑封體上器件面所在的表面,內(nèi)部設置有與芯片的焊盤相對應的導電凸點;導電凸點用于將相應的焊盤引出至互連層上表面;重布線層,設置于互連層上;重布線層與凸點電耦合。通過設置于重布線層與塑封體之間的互連層,使得封裝塑封體與芯片之間的界面應力經(jīng)過互連層之后有了較大幅度的降低,從而使得重布線層所受到的應力能夠較大幅度地減小,即使細窄重布線受界面應力的影響而疲勞斷裂的可能性也大大降低,提高了該封裝結(jié)構(gòu)的可靠性。 |
