一種鏡片檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020698774.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212301367U | 公開（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212301367U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-01-05 |
| 分類號(hào) | G01N21/958;G01N21/01 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 夏登海;何健敏 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 廣州晶和光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京品源專利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 510000 廣東省廣州市黃埔區(qū)云埔工業(yè)區(qū)東誠片康達(dá)路12號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開一種鏡片檢測(cè)裝置，包括夾具、照明光源、檢測(cè)相機(jī)、支撐框架。夾具用于夾持待檢測(cè)鏡片，以使待檢測(cè)鏡片的光軸與豎直方向呈預(yù)設(shè)角度傾斜放置；照明光源位于待檢測(cè)鏡片的正上方，用于向待檢測(cè)鏡片發(fā)出照明光；檢測(cè)相機(jī)位于待檢測(cè)鏡片的側(cè)上方，用于接收待檢測(cè)鏡片反射的反射光；支撐框架用于承載夾具、照明光源和檢測(cè)相機(jī)。利用壓克或膜欠缺陷所在的位置對(duì)不同波段的光的反射率存在顯著差異，通過檢測(cè)相機(jī)接收待檢測(cè)鏡片表面反射的反射光成像，對(duì)圖像進(jìn)行處理，能夠快速、精準(zhǔn)地確定壓克或膜欠缺陷，提高檢測(cè)效率和準(zhǔn)確度。 |
