TOF測(cè)距裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021520243.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN212749253U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212749253U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-19 |
| 分類號(hào) | G01S17/10(2020.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 張義榮 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 傳周半導(dǎo)體科技（上海）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京久維律師事務(wù)所 | 代理人 | 邢江峰 |
| 地址 | 200003上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)海洋一路333號(hào)1號(hào)樓、2號(hào)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型提供一種TOF測(cè)距裝置，包括：基板，設(shè)置有第一階梯、第二階梯以及第三階梯；發(fā)射模塊，設(shè)置在所述基板的第一階梯上，用于向目標(biāo)物發(fā)射光信號(hào)；接收模塊，設(shè)置在所述基板的第二階梯上，用于接收由所述目標(biāo)物反射回的所述光信號(hào)；以及控制模塊，設(shè)置在所述基板的第三階梯上，用于控制發(fā)射模塊向目標(biāo)物發(fā)射光信號(hào)，并控制接收模塊接收由所述目標(biāo)物反射回的所述光信號(hào)，以及計(jì)算所述發(fā)射模塊發(fā)射的所述光信號(hào)與所述接收模塊接收到的所述光信號(hào)的時(shí)間差，并基于所述時(shí)間差獲取所述目標(biāo)物的距離。?? |
