基于雪崩光電二極管陣列芯片的大動(dòng)態(tài)范圍弱光探測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810830552.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109100018B 公開（公告）日 2021-08-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN109100018B 申請(qǐng)公布日 2021-08-03
分類號(hào) G01J1/42（2006.01）I;G01J1/44（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 鄧仕杰;張文濤;苑立波 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 傳周半導(dǎo)體科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 201306上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)海洋一路333號(hào)1號(hào)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的是一種基于雪崩光電二極管陣列芯片的大動(dòng)態(tài)范圍弱光探測(cè)系統(tǒng)。其特征是：系統(tǒng)是由偏壓發(fā)生器模塊201、偏壓控制模塊202、雪崩光電二極管陣列芯片203、光源204、和信號(hào)讀出和處理系統(tǒng)205組成。本發(fā)明可廣泛用于極微弱光測(cè)量如激光測(cè)距，DNA測(cè)序，量子密匙分配，激光雷達(dá)以及醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。