一種電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202020533536.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212301618U | 公開（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申請公布號 | CN212301618U | 申請公布日 | 2021-01-05 |
| 分類號 | G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 何亮;易軍;譚小雄;張經(jīng)恒 | 申請（專利權(quán)）人 | 深圳市金鵬源輻照技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市遠(yuǎn)方鼎立知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 劉飛燕 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市羅湖區(qū)東盛路68號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架，包括底座殼和試驗(yàn)支架，所述底座殼的中部固定連接有收納槽，所述收納槽的頂部固定連接有試驗(yàn)支架，所述收納槽的內(nèi)部滑動連接有劑量盒。該電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架，通過透明蓋體和放大鏡片的設(shè)置，透明蓋體翻轉(zhuǎn)調(diào)整至底座殼的頂部，使其整體對試驗(yàn)支架外圍起到密封遮擋的作用，而其中部安裝的放大鏡片方便了試驗(yàn)人員對檢測器件的精確觀察，更降低了檢測器件對試驗(yàn)人員造成的輻射危害情況，通過收納槽和劑量盒的設(shè)置，對可能出現(xiàn)滴漏液體情況提供底部收納的作用，方便了試驗(yàn)人員在后期的衛(wèi)生處理性，更是間接降低了劑量造成的二次輻照危害影響。?? |
