共晶焊接設(shè)備及其加熱系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011444600.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113161250B | 公開(公告)日 | 2022-02-25 |
申請公布號 | CN113161250B | 申請公布日 | 2022-02-25 |
分類號 | H01L21/603(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 吳超;曾義;徐金萬;蔣星;余再歡 | 申請(專利權(quán))人 | 恩納基智能科技無錫有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京智宇正信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 于理科 |
地址 | 214037江蘇省無錫市金山北科技產(chǎn)業(yè)園C區(qū)1-8-101、C區(qū)1-8-201 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種共晶焊接設(shè)備,用于對上晶圓和下晶圓進(jìn)行共晶鍵合操作。共晶焊接設(shè)備包括:晶圓臺,用于承載上晶圓和下晶圓并對上晶圓和下晶圓進(jìn)行加熱;以及壓力組件,用于對上晶圓施加壓力。并且,共晶焊接設(shè)備還包括:溫度傳感器陣列,包括設(shè)置于壓力組件的下表面的多個(gè)溫度傳感器,并且多個(gè)溫度傳感器分別與上晶圓的上表面的多個(gè)區(qū)域?qū)?yīng);加熱組件陣列,包括設(shè)置于晶圓臺內(nèi)的多個(gè)加熱組件,并且多個(gè)加熱組件位置分別與多個(gè)溫度傳感器的位置對應(yīng);以及控制裝置,與多個(gè)溫度傳感器和多個(gè)加熱組件進(jìn)行通信,配置用于根據(jù)多個(gè)溫度傳感器的測量溫度值,調(diào)節(jié)多個(gè)加熱組件的加熱溫度,使得上晶圓和下晶圓在晶圓平面內(nèi)的溫度均勻分布。 |
