透照構(gòu)件的X射線檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711174690.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109827977A 公開（公告）日 2019-05-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN109827977A 申請(qǐng)公布日 2019-05-31
分類號(hào) G01N23/04（2018.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 戚克鵬;敖志軍;任欣 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 寧波至信檢測(cè)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 寧波至信檢測(cè)技術(shù)有限公司
地址 315135 浙江省寧波市鄞州區(qū)云龍鎮(zhèn)云振路255號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種透照構(gòu)件的X射線檢測(cè)方法，包括以下步驟：確定待檢測(cè)構(gòu)件中每個(gè)待檢測(cè)區(qū)域的最小厚度和最大厚度；將至少兩張膠片封裝在暗盒中形成膠片系統(tǒng)；根據(jù)待檢測(cè)區(qū)域的厚度范圍和所述膠片系統(tǒng)確定透照射線檢測(cè)工藝；根據(jù)所述透照射線檢測(cè)工藝對(duì)所述待檢測(cè)構(gòu)件中待檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)；將所述至少兩張膠片沖洗晾干，并觀察所述至少兩張膠片上顯示的影像，分析檢測(cè)結(jié)果，可以使得待檢測(cè)區(qū)域通過一次透照即可查出各部位的缺陷，另外，即使單個(gè)待檢測(cè)構(gòu)件存在多種厚度，也不必采用多種工藝，有助于簡(jiǎn)化無損檢測(cè)的過程，節(jié)約時(shí)間和材料成本，提高工作效率。