一種提高磁強計分辨率指標的系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201821286111.3 申請日 -
公開（公告）號 CN208421201U 公開（公告）日 2019-01-22
申請公布號 CN208421201U 申請公布日 2019-01-22
分類號 G01R33/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 田蕊;陳德祥;馮強濤;劉艷龍 申請（專利權）人 北京鵬宇思?？萍加邢薰?/a>
代理機構 北京市盛峰律師事務所 代理人 北京鵬宇思?？萍加邢薰?/td>
地址 100085 北京市海淀區(qū)安寧莊路26號樓4層401
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種提高磁強計分辨率指標的系統(tǒng)，涉及磁場的精準測量技術領域。包括：一階無差系統(tǒng)、一階映射系統(tǒng)和二階映射系統(tǒng)，所述一階映射系統(tǒng)和二階映射系統(tǒng)為所述一階無差系統(tǒng)的平行反饋系統(tǒng)，所述一階映射系統(tǒng)通過反饋抵消絕大部分測量磁場，所述二階映射系統(tǒng)利用磁強計模擬輸出電壓作為反饋源，通過電阻轉換為電流直接反饋給磁強計探頭。該系統(tǒng)中，使用二階映射將有限的模擬電壓范圍對應小量程磁場值，分辨率可以比現(xiàn)有技術方案提高了兩個數(shù)量級；另外，由于一階映射為粗映射，一方面對數(shù)/模模塊和模/數(shù)模塊精度依賴大大降低，另一方面減少了元器件成本。