一種基于一維距離像特征的雜波圖檢測與更新方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110531988.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113253231A | 公開(公告)日 | 2021-08-13 |
申請公布號 | CN113253231A | 申請公布日 | 2021-08-13 |
分類號 | G01S7/41(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 李瑋璐;林玉新;何曉;尤立峰;徐遜 | 申請(專利權)人 | 成都西科微波通訊有限公司 |
代理機構 | 成都正華專利代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 代維凡 |
地址 | 610000四川省成都市外西謝家祠四威電子大廈 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于一維距離像特征的雜波圖檢測與更新方法,其包括以下步驟:S1、建立初始雜波圖,獲取一維距離像信息熵和中心矩特征;S2、獲取雜波底參考數(shù)據(jù);S3、獲取超過檢測門限的回波點;S4、獲取當前掃描幀數(shù)據(jù)的一維距離像信息熵和中心矩特征;S5、存儲臨時雜波圖,記錄各角度下的一維距離像信息熵和中心矩特征;S6、判斷是否進行雜波圖更新;S7、將臨時雜波圖更新至初始雜波圖中,完成基于一維距離像特征的雜波圖更新。本方法可以自動分辨掃描場地中是否出現(xiàn)異常大目標,若判斷當前場地出現(xiàn)異常大目標,則將該大目標進行上報并在該掃描周期中不進行雜波圖更新,進而不會影響后續(xù)異物檢測的結果,提高檢測效果。 |
