一種減小寬光譜透過(guò)率測(cè)量誤差的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010793817.4 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN111829971A 公開(kāi)(公告)日 2020-10-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN111829971A 申請(qǐng)公布日 2020-10-27
分類號(hào) G01N21/31(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 宋光均;吳劍峰;蔣之輝 申請(qǐng)(專利權(quán))人 廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州正明知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
地址 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)彩頻路7號(hào)701-1房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光譜測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種減小寬光譜透過(guò)率測(cè)量誤差的方法,具體是進(jìn)行樣品檢測(cè)時(shí),通過(guò)增強(qiáng)入射光全波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度,提高測(cè)量信號(hào),減小樣品的透過(guò)率測(cè)量誤差。本發(fā)明從光透過(guò)率定義出發(fā),綜合光譜儀的檢測(cè)原理、發(fā)光元器件的工作原理等,無(wú)需調(diào)節(jié)光程,樣品不受狀態(tài)限制,固體、液體均可。通過(guò)增強(qiáng)入射光全波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度,能夠獲取更高的樣品透射信號(hào),使得光譜儀的信噪比顯著提高,從而減小了樣品透過(guò)率的測(cè)量誤差。本發(fā)明方法不受樣品形態(tài)、光譜檢測(cè)范圍的限制,且操作簡(jiǎn)單,可廣泛應(yīng)用于多種樣品類型的寬光譜檢測(cè)。??