一種減小寬光譜透過(guò)率測(cè)量誤差的方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010793817.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN111829971A | 公開(kāi)(公告)日 | 2020-10-27 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN111829971A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-10-27 |
分類號(hào) | G01N21/31(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 宋光均;吳劍峰;蔣之輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州正明知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司 |
地址 | 510000廣東省廣州市黃埔區(qū)彩頻路7號(hào)701-1房 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及光譜測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種減小寬光譜透過(guò)率測(cè)量誤差的方法,具體是進(jìn)行樣品檢測(cè)時(shí),通過(guò)增強(qiáng)入射光全波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度,提高測(cè)量信號(hào),減小樣品的透過(guò)率測(cè)量誤差。本發(fā)明從光透過(guò)率定義出發(fā),綜合光譜儀的檢測(cè)原理、發(fā)光元器件的工作原理等,無(wú)需調(diào)節(jié)光程,樣品不受狀態(tài)限制,固體、液體均可。通過(guò)增強(qiáng)入射光全波長(zhǎng)的光譜強(qiáng)度,能夠獲取更高的樣品透射信號(hào),使得光譜儀的信噪比顯著提高,從而減小了樣品透過(guò)率的測(cè)量誤差。本發(fā)明方法不受樣品形態(tài)、光譜檢測(cè)范圍的限制,且操作簡(jiǎn)單,可廣泛應(yīng)用于多種樣品類型的寬光譜檢測(cè)。?? |
