一種氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201610055456.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN105742189B | 公開(公告)日 | 2019-07-23 |
申請公布號 | CN105742189B | 申請公布日 | 2019-07-23 |
分類號 | H01L21/34;H01L29/786 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 黃榮翠 | 申請(專利權(quán))人 | 青島中微創(chuàng)芯電子有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥市科融知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 晉圣智 |
地址 | 266000 山東省青島市黃島區(qū)太白山路172號青島中德生態(tài)園雙創(chuàng)中心311室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管的制備方法,所述氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管包括基板、柵介質(zhì)層、溝道層、源電極和漏電極,其制備方法包括以下步驟:⑴基板清洗;⑵柵介質(zhì)層制備;⑶溝道層的制備;⑷源電極和漏電極的制備。本發(fā)明工藝合理,簡單合理,同時制備的氧化物半導(dǎo)體薄膜晶體管對載流子具有良好抑制能力,提高器件和電路的可靠性,并簡化了閾值電壓補(bǔ)償電路設(shè)計(jì)的復(fù)雜性,而且,有利于在低溫下形成非晶態(tài)的薄膜,有利于保證器件制備的一致性、改善通過低溫工藝制造的器件的穩(wěn)定性。 |
