一種IGBT/SiC器件損耗自動(dòng)檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110269813.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113125923A 公開（公告）日 2021-07-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN113125923A 申請(qǐng)公布日 2021-07-16
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 孫厚強(qiáng);張高瑞;秦浩楠;李小偉;王知學(xué) 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 青島中微創(chuàng)芯電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海精晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張仁杰
地址 266500山東省青島市黃島區(qū)太白山路172號(hào)青島中德生態(tài)園雙創(chuàng)中心311室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種IGBT/SiC器件損耗自動(dòng)檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，包括依次傳遞數(shù)據(jù)的IGBT/SiC器件控制電路模塊、驅(qū)動(dòng)模塊與IGBT/SiC器件，本發(fā)明通過IGBT/SiC器件損耗自動(dòng)檢測(cè)裝置可以實(shí)時(shí)監(jiān)控IGBT/SiC功率器件工作狀態(tài)，提升應(yīng)用系統(tǒng)運(yùn)行的安全性及可靠性，大大降低系統(tǒng)工作維護(hù)成本，避免由于應(yīng)用系統(tǒng)故障導(dǎo)致的人身事故及財(cái)產(chǎn)損；可有效保護(hù)硬件電路安全，降低設(shè)備故障率。